机译:背景是由于核衰变后储存的电子 KaTRIN光谱仪及其对中微子质量灵敏度的影响
机译:KATRIN光谱仪中核衰变后由于存储的电子导致的本底及其对中微子质量灵敏度的影响
机译:KATRIN对中微子质量和β衰变中右旋电流的敏感性
机译:在核#beta#衰变中观察到的表面负电子中微子质量平方的可能解释
机译:背景由于Katrin光谱仪中的存储电子
机译:KATRIN实验中光谱仪潘宁阱和二次电子发射的背景研究
机译:中子β衰变中电子-中微子相关性的测量
机译:KaTRIN:具有sub-eV的下一代氚beta衰变实验 对电子中微子质量的敏感性